-
لا يوجد إخراج: لا توجد استجابة للحمل، جهد خرج منخفض جدًا أو صفر. الأسباب الشائعة: خلايا الجهد المنخفض، ودوائر MOSFET التالفة، وصهر الصمامات، وتتبع PCB المكسور.
-
الفشل في الشحن: لا يمكن الشحن أو يتوقف عن الشحن قبل الأوان. الأسباب الشائعة: عدم إعادة ضبط الحماية من الشحن الزائد، وعدم تطابق الشاحن، وضعف تناسق جهد الخلية.
-
غير قادر على تحميل القيادة: جهد الدائرة المفتوحة - عادي ولكن التيار الكهربائي ينقطع تحت الحمل. الأسباب الشائعة: زيادة مقاومة تفريغ MOSFET، وعتبة التيار الزائد منخفضة جدًا.
-
احتراق MOSFET أثناء حماية الدائرة القصيرة: فشل MOSFET أثناء تنفيذ حماية الدائرة القصيرة. الأسباب الشائعة: الجهد العالي الناتج عن الحث الطفيلي، والخسارة المفرطة في إيقاف التشغيل-.
-
فشل حماية ماس كهربائى: لا يوجد تفعيل للحماية خلال فترة قصيرة. الأسباب الشائعة: المقاوم الحسي الخاطئ، عدم تطابق IC-MOSFET، التأخير الداخلي المفرط لـ IC.
-
لا يوجد استرداد تلقائي بعد فترة قصيرة: يبقى مغلقًا بعد إزالة القصير. الأسباب الشائعة: تفتقر IC إلى الاسترداد التلقائي، والتسرب في أطراف الإخراج، وعدم فصل التحميل بالكامل.
-
زيادة كبيرة في المقاومة الداخلية: انخفاض شديد في الجهد تحت التفريغ. الأسباب الشائعة: FUSE/PTC القديم، وزيادة مقاومة MOSFET، والشقوق الصغيرة في منافذ PCB.
-
فشل حماية درجة الحرارة: لا يوجد انقطاع للتيار الكهربائي عند درجة حرارة عالية أو لا يوجد حد للشحن عند درجة حرارة منخفضة. الأسباب الشائعة: انحراف مقاومة NTC، وضعف الاتصال في دائرة أخذ العينات، ووضع المستشعر بشكل غير مناسب.
-
عدم استجابة المجلس بالكامل: لا يوجد تيار داخل أو خارج. الأسباب الشائعة: فصل خط إمداد الطاقة، إجمالي جهد البطارية أقل من عتبة بدء تشغيل IC، القفل الدائم بسبب التفريغ الزائد العميق.

